一、儀器簡(jiǎn)介：

建筑工程質(zhì)量檢測(cè)器組校準(zhǔn)裝置是我公司嚴(yán)格按照《JF1110-2003建筑工程質(zhì)量檢測(cè)器組校準(zhǔn)規(guī)范》研發(fā)生產(chǎn)的，用來檢測(cè)建筑工程質(zhì)量檢測(cè)器組中垂直檢測(cè)尺，內(nèi)外直角檢測(cè)尺、楔形塞尺的示值誤差的專用校準(zhǔn)裝置。該裝置的垂直主體采用穩(wěn)定性很好的花崗巖，高精度測(cè)微頭，能夠調(diào)整水平的花崗巖底座組成。

二、儀器組成：

該校準(zhǔn)裝置由XR-2000C型垂直度檢測(cè)尺校準(zhǔn)裝置和XR-300Z型內(nèi)外直角檢測(cè)尺校準(zhǔn)裝置兩臺(tái)儀器組成。XR-2000C型垂直度檢測(cè)尺校準(zhǔn)裝置用于檢測(cè)垂直檢測(cè)尺的示值誤差，XR-300Z型內(nèi)外直角尺校準(zhǔn)裝置用于檢測(cè)內(nèi)外直角檢測(cè)尺和楔形塞尺的示值誤差。

三、工作原理：

建筑工程質(zhì)量檢測(cè)器組校準(zhǔn)裝置采用比較法測(cè)量，由數(shù)顯測(cè)微頭行進(jìn)距離與回轉(zhuǎn)軸軸線、導(dǎo)軸軸線間距離L1之比組成標(biāo)準(zhǔn)角β1(sinβ1= L1/R)，比較測(cè)量垂直度檢測(cè)尺轉(zhuǎn)角β2(sinβ2=L2/R)的示值誤差,其原理是采用數(shù)顯測(cè)微頭螺旋副等進(jìn)傳動(dòng)原理，使螺桿的回轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)變?yōu)橹本€運(yùn)動(dòng)，將垂直度檢測(cè)尺的角位移轉(zhuǎn)化為直線位移，用線值表示示值誤差ΔL=L2-L1。

測(cè)量原理：L1：數(shù)顯測(cè)微頭行進(jìn)距離mm；L2：垂直度檢測(cè)尺示值mm；β1：標(biāo)準(zhǔn)角；β2：垂直度檢測(cè)尺轉(zhuǎn)角；R：回轉(zhuǎn)軸軸線、導(dǎo)軸軸線間距離mm；ΔL：示值誤差：mm。

三、XR-2000C型垂直度檢測(cè)尺校準(zhǔn)裝置的結(jié)構(gòu)圖和技術(shù)參數(shù)：

1、結(jié)構(gòu)圖如下圖所示：

2、技術(shù)參數(shù)：

（1）型號(hào)：XR-2000C型；

（2）高度：1980±1mm；

（3）數(shù)顯測(cè)微頭分辨力：0.001mm/m；

（4）數(shù)顯測(cè)微頭行程：0-50mm；

（5）數(shù)顯測(cè)微頭誤差：±0.004mm。

四、XR-300Z型內(nèi)外直角尺校準(zhǔn)裝置的結(jié)構(gòu)圖和技術(shù)參數(shù)：

1、結(jié)構(gòu)圖如下圖所示：

2、技術(shù)參數(shù)：

（1）型號(hào)：XR-300Z；

（2）高度：300mm；

（3）寬度：250mm；

（4）厚度：50mm；

（5）工作面的相互垂直度：0.01mm/300；

（6）工作面的平面度：0.005mm；

（7）數(shù)顯測(cè)微頭分辨力：0.001mm/m；

（8）數(shù)顯測(cè)微頭行程：0-25mm；

（9）數(shù)顯測(cè)微頭誤差：±0.004mm；

（10）花崗巖平板的平面度：0.005mm（800X300X150）；

（11）花崗巖外形尺寸：（800X300X150）mm。

五、儀器配置：

1、XR-2000C型垂直度檢測(cè)尺校準(zhǔn)裝置：1臺(tái)（含第三方計(jì)量證書）；

2、XR-300Z型內(nèi)外直角檢測(cè)尺校準(zhǔn)裝置（含楔形塞尺檢測(cè)支架）：1臺(tái)（含第三方計(jì)量證書）；

3、水平調(diào)整支腳：1套；

4、使用說明書：1份；

5、出廠合格證書：1份；

6、產(chǎn)品保修卡：1份；

7、產(chǎn)品裝箱清單：1份。